公告摘要：
低溫CMOS芯片低溫測(cè)試及驗(yàn)證招標(biāo)公告（(WX)2502-00102）
我部就以下項(xiàng)目進(jìn)行國內(nèi)競(jìng)爭(zhēng)性談判，采購資金已全部落實(shí)，歡迎符合條件的供應(yīng)商參加投標(biāo)。 一、項(xiàng)目名稱：低溫CMOS芯片低溫測(cè)試及驗(yàn)證 二、項(xiàng)目編號(hào)：2025-YKJSJY-F3058 三、項(xiàng)目概況： （一）主要內(nèi)容： 針對(duì)我方......
