公告摘要:
缺陷檢測分析設(shè)備重新招標(biāo)澄清或變更公告(1)
招標(biāo)項目編號:0664-2540SUMECA59/03 項目名稱:缺陷檢測分析設(shè)備 項目名稱(英文):Defect detection and analysis equipment 招標(biāo)人:北京天科合達(dá)半導(dǎo)體股份有限公司 招標(biāo)機(jī)構(gòu):蘇美達(dá)國際技術(shù)貿(mào)易有限公......
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缺陷檢測分析設(shè)備重新招標(biāo)澄清或變更公告(1)
招標(biāo)項目編號:0664-2540SUMECA59/03 項目名稱:缺陷檢測分析設(shè)備 項目名稱(英文):Defect detection and analysis equipment 招標(biāo)人:北京天科合達(dá)半導(dǎo)體股份有限公司 招標(biāo)機(jī)構(gòu):蘇美達(dá)國際技術(shù)貿(mào)易有限公......
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