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公告摘要：
芯片測(cè)試座廢標(biāo)公示（2025-YKDZKX-W4016）
我部對(duì)芯片測(cè)試座采購(gòu)項(xiàng)目進(jìn)行了詢(xún)價(jià)采購(gòu)，現(xiàn)就供應(yīng)商評(píng)審結(jié)果公示如下： 一、項(xiàng)目名稱(chēng)：芯片測(cè)試座 二、項(xiàng)目編號(hào)：2025-YKDZKX-W4016 三、公示期限：2025年09月23日至2025年09月25日 四、評(píng)審結(jié)果： 采購(gòu)包(1 )，......
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