公告摘要：
芯片級(jí)設(shè)計(jì)過程驗(yàn)證
統(tǒng)一信息編碼：HLJGGG20250612007 專業(yè)領(lǐng)域：制導(dǎo)與控制技術(shù),電子元器件,探測(cè)與識(shí)別,計(jì)算機(jī)與軟件,體系建模仿真與評(píng)估,電子信息,網(wǎng)絡(luò)通信,衛(wèi)星應(yīng)用,動(dòng)力與傳動(dòng),先進(jìn)材料與制造,可靠性/測(cè)試性/維修性,其他 主要內(nèi)容 芯片級(jí)設(shè)計(jì)過程驗(yàn)證項(xiàng)目競(jìng)爭(zhēng)性談判結(jié)果公示：中科芯云......
